Описание
Для исследования не пропускающих свет поверхностей или препаратов (минералов, керамики, игл, катетеров, микросхем и т.д.) при высоком увеличении.
Для исследования и контроля качества печатных плат, LCD мониторов, а также структуры металлических изделий.
